型号：SWP-T20
更新时间：2024-08-05 | 阅读：694
详情介绍
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被测介质的压力直接作用于传感器的陶瓷膜片上，使膜片产生与介质压力成正比的微小位移，正常工作状态下，膜片zui大位移 | |||||||||||||||||||||
不大于 0.025毫米，电子线路检测这一位移量后，即把这一位移量转换成对应于这一压力的标准工业测量信号。超压时膜片直接贴 | |||||||||||||||||||||
| 到坚固的陶瓷基体上，由于膜片与基体的间隙只有0.1毫米，因此过压时膜片的zui大位移只能是0.1毫米，所以从结构上保证了膜片 | |||||||||||||||||||||
| 不会产生过大变形，由于膜片采用高性能的工业陶瓷因而使传感器具有很强的抗过载能力。 | |||||||||||||||||||||
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